1. DRAM与内存墙
2017 年,NVIDIA V100 搭载 HBM2 显存,带宽 0.9TB/s,峰值算力 125 TFLOPS。2023 年,H100 搭载 HBM3 显存,带宽 3.35TB/s,峰值算力 1,979 TFLOPS。
七年间带宽仅提升了 3.7 倍,算力却提升了接近 16 倍。当处理器的计算能力增速远高于存储带宽增长时,就会出现处理器有能力跑的更快,但是不得不等待存储搬运数据,就像撞到一堵墙,这就是所谓的 “内存墙”。

DRAM(Dynamic Random Access Memory,动态随机存取存储器) 是目前计算机主存储器和显存的核心技术,有过装机经验的朋友应该见过内存条上的颗粒芯片,现代GPU的显存通常被改在散热器下面,看起来很内存颗粒差不太多。
DRAM 的记忆单元由 1 个晶体管(Transistor)+ 1 个电容(Capacitor) 构成,简称 1T1C:通过晶体管向电容充放电实现读写,但因电容漏电需要每隔 ~64ms 刷新一次,掉电以后记忆会丢失。
DRAM 的读写速度由以下公式确定:
带宽(bytes/s)= 频率(Hz)× 位宽(bits)/8
目前无论计算单元 CPU 或 GPU,还是 DRAM 的制程都已经逐步接近物理极限,但是计算单元的效率增速依然高于 DRAM。特别是 GPU,其中通常包含数千个并行单元,其对数据带宽的要求能达到 CPU 的10~100 倍。
为了满足 GPU 对存储带宽的要求,从上面提到的带宽公式可以知道,要么提高频率,要么增加位宽。
路线一:GDDR(Graphics DDR)——频率路线
GDDR(Graphics Double Data Rate,图形双倍数据率)与消费级 DDR 内存同源:
- 通过激进提高 I/O 数据速率来获得高带宽(当前主流 GDDR6X 可达 16-24 Gbps,下一代 GDDR7 预计可达 28-32 Gbps)。 每个通道位宽仅为 32-bit,通过多通道并行(通常 8-16 通道)达到总位宽 256-512-bit。
- 采用独立封装(Separate Package),每颗芯片独立焊接到 PCB 上。
代价:
- 频率提高导致功耗显著增加。在核心电压基本保持不变的情况下,根据动态功耗公式,功耗与频率呈线性正比关系,高频运行会带来巨大的发热与能耗压力。
- 独立封装无法进行垂直堆叠,单芯片容量受限。多颗芯片并联占用大量 PCB 面积,且长距离走线使得信号完整性(Signal Integrity)设计难度递增。
典型产品:NVIDIA RTX 4090 使用 24 颗 GDDR6X,总位宽 384-bit,带宽达 1.0 TB/s。
路线二:HBM(High Bandwidth Memory)——位宽与短距路线
HBM 采取完全不同的思路,不追求高频,而是将位宽和物理距离优化推到极致。
- 通过 TSV(Through Silicon Via,硅通孔)将多层 DRAM 芯片进行 3D 垂直堆叠。
- 使用 Microbump(微凸块)将各层进行高密度垂直互连。 整个堆叠与 GPU 通过 Interposer(中介层)封装在同一基板上,实现极短的互连布线。
- HBM 的核心理念:用“宽”和“短”替代“快”。以 HBM3 为例,每个堆叠(Stack)的接口位宽高达 1024-bit,而一条 GDDR6 通道仅为 32-bit。HBM 以更低的数据速率(6.4 Gbps vs 16 Gbps)实现了数倍于 GDDR 的总带宽,同时大幅降低了传输延迟与功耗。
代价:
- 需要精确的 Interposer 和先进封装工艺(如 CoWoS),制程复杂度远超传统独立封装。
- TSV 工艺成本高、良率控制难度大。
- 3D 堆叠结构使散热管理更加困难。
HBM 是一条“昂贵但必要”的路线。消费级显卡使用 GDDR 仍是兼顾性能与性价比的选择;但在 AI 训练、HPC(高性能计算)这类需要 TB/s 级海量数据吞吐的场景中,HBM 是目前打破“内存墙”最现实且核心的解决方案。
2. HBM3架构

为了提高带宽和单位面积下的存储容量,HBM3 将多层 DRAM 在垂直方向累加起来,就像一栋8~12 层楼房。这样就比 GDDR 那种平房容量更高、吞吐量也更大。
2.1 DRAM Core Die(核心存储层)
DRAM Core Die 是实际记忆数据的场所,其结构大体上与通用 RAM 一致,构成了 HBM 各层“货仓”(但 1 楼的 Base Die 除外,稍晚会提到)。
每颗 Core Die 是一颗经过 TSV (硅通孔)工艺魔改的 DRAM 芯片。与传统 DRAM 不同,HBM 的 Core Die 表面密集排列着贯穿硅片的通孔阵列——TSV(Through Silicon Via,硅通孔)。这些通孔随后会被填充铜柱,形成横跨所有层的高速数据垂直通路,同时铜柱也是 HBM 的关键散热组件。铜柱两端会焊接微小的锡球(Microbumps),用于两层之间的物理和电气连接。

传统 DRAM 的数据 I/O 位于芯片边缘(Peripheral Area),通过金属线连接到 PCB。这种方式无法实现垂直堆叠。TSV 解决了这个问题:它将数据 I/O 从芯片边缘转移到了芯片表面/内部,使得数据能够垂直穿过每一层芯片传输,最终由底部的 Base Die 统一对外输出。
2.2 Microbump(微凸块)层间互连
相邻 DRAM die 之间通过 Microbump(微凸块) 实现物理和电气连接:
- Microbump 是直径约 20-25μm、间距约 40-50μm 的微小锡球。
- 每个 microbump 对应一个 TSV 通孔的出口。
- 多层 die 堆叠时,die 与 die 之间填充 Underfill(底部填充胶)以增强机械稳定性。
简而言之,各层之间通过 Microbump 这种微小的锡球焊接彼此的铜柱,灌胶以后形成一个整体。
2.3 Base Die(基础层)
堆叠最底部是一颗特殊的逻辑 Die,它不包含 DRAM 存储单元,而是承担底层控制功能:
- DRAM 阵列控制:管理每一层 Core Die 的刷新时序(Refresh)、行列冗余(Row/Column Redundancy)及故障替换。
- ECC 引擎:HBM3 引入了强大的片上 ECC(On-die ECC)和错误检查与清洗(ECS)功能,保障海量数据吞吐下的可靠性。
- 接口桥接:提供标准化的并行接口,与外部 GPU 侧的 HBM PHY 进行对接。
Base Die 是 HBM 堆叠中唯一使用逻辑工艺的部分,通常采用 12nm/16nm 等先进逻辑节点制造,以支撑复杂的控制逻辑。这一层在 HBM3 中一般由 DRAM 厂商自行完成。
2.4 1024-bit 位宽与伪通道设计
HBM3 每个堆叠对外暴露 1024-bit 接口,但内部架构进行了革新:
- 这 1024-bit 被划分为 16 个 64-bit 通道,并进一步细分为 32 个 32-bit 伪通道(Pseudo-Channels)。
- 伪通道可独立异步操作,大幅提升了随机访问的并发效率,减少了通道间的干扰。
- 凭借 1024-bit 的极致位宽和 6.4 Gbps 的数据速率,单堆叠带宽达 819 GB/s,约为单颗 GDDR6 芯片的 10-13 倍。
2.5 解决了什么问题
HBM3 最重要的贡献是在单位面积内实现了前所未有的带宽密度,同时通过伪通道架构大幅提升了并发访问效率。
以 H100 GPU 为例:搭配 6 颗 HBM3 stack(12-Hi),总带宽达 3.35 TB/s。HBM3 堆叠的标准封装尺寸约为 7 mm × 11 mm,6 颗 stack 合计占用约 462 mm²。在一张面积约 3,000 mm² 的高端 GPU 封装基板上,HBM 仅占用约 15%-20% 的面积,就提供了 3.35 TB/s 的带宽。 如果使用 GDDR6 实现同等带宽(单颗 ~64 GB/s),至少需要 54-60 颗芯片,这将彻底耗尽 PCB 空间并引发严重的信号完整性问题,在 GPU 周围平铺五六十颗显存颗粒几乎无法实现。
2.6 HBM3 的新问题
HBM3 将 TSV + Microbump 的组合推到了当前极限。暴露出的问题直接定义了 HBM4 的设计方向。
散热:HBM3 堆叠十几层以后,GPU 运行时发热严重,特别是堆叠中层,通常比底层高出 15 度左右。
Microbump 的物理极限:为了堆叠更多层并限制堆叠高度,必须使用更小的锡球,过小的锡球又会造成层与层连接强度不足、虚焊、短路等风险,也会造成连接电阻上升,进一步加剧发热。
信号完整性:过多的接口界面引入的寄生电容、电阻导致总线信号质量下降。
封装、测试成本上升。
其实核心矛盾是更强的 LLM 对显存的需求持续膨胀,需要更快更大的显存,堆叠更多层 Core die。
3. HBM4 架构
HBM4 不是一次简单的规格升级,而是在接口带宽、芯片互连方式、base die 工艺、堆叠结构四个维度同时发生了方向性变化。
3.1 2048-bit 接口
HBM3 到 HBM4 最直观的变化是接口位宽从 1024-bit 翻倍到 2048-bit。
根据 JEDEC 发布的 HBM4 规范(JESD270-4),HBM4 被划分为 32 个独立的 64-bit 通道。每个 64-bit 通道内部再细分为 2 个 32-bit 的伪通道(Pseudo-Channels)。这种扩展允许在内存操作中实现更大的访问灵活性和并行性。
这意味着 GPU 需要为 HBM4 重新设计 HBM PHY(物理层接口)。随着总线宽度翻倍,HBM PHY 面积也随之增大。反过来,如果将部分存储管理逻辑“下放”到 HBM Base Die,可以局部抵消 PHY 面积的增长。
HBM3E 的单颗带宽上限约为 1.2-1.4 TB/s。如果 GPU 配置 8 颗 HBM4 stack,系统总带宽可达 16-26 TB/s。
3.2 混合键合(Hybrid Bonding)

混合键合(也称 Cu-Cu Bonding / 铜-铜直接键合)是突破 16-Hi 堆叠物理极限的关键技术。它去除了传统的锡球和底部填充胶,将芯片表面通过高精度打磨(CMP)抛光至原子级别平整度后,铜触点与介电层直接通过分子扩散熔合为一个整体,层与层之间完全紧贴,堆叠高度甚至能比 HBM3 更低。
3.3 Base Die 工艺升级:逻辑工艺集成
Base Die 是 HBM 堆叠最底部的控制层。HBM4 将 Base Die 从 DRAM 外围工艺全面迁移至先进逻辑代工节点。例如,SK海力士采用台积电的 12nm/5nm 工艺,三星则采用自研的 4nm (SF4) 逻辑工艺。
解决的问题:
- 减轻 GPU die 的 PHY 占用:将部分存储管理逻辑(指令调度、时序控制、ECC 聚合)从 GPU SoC 迁移到 Base Die,GPU 只负责更高层级的访存命令。
- 降低系统能耗:逻辑工艺的升级使 Base Die 的工作电压(VDDQ)从 HBM3E 的 1.1V 降至 HBM4 的 0.75V 左右,显著降低了发热与功耗。
- 更高的管理能力:逻辑 Base Die 可集成更复杂的 ECC 引擎、每层 DRAM die 的独立温度监控和数据刷新率自适应调节。
Base Die 工艺迁移到逻辑节点后,其生产从 DRAM Fab 转向逻辑代工厂(例如台积电),封装厂有可能在 HBM4 供应链中分享更多毛利。
另外,三星是几家厂商重唯一具备 DRAM、逻辑封装能力的厂商,HBM4 从晶圆加工到最终封片可以在内部供应链解决,而其他厂商需要依赖外部代工厂,这可能使三星在 HBM4 市场获得成本优势。
4. HBM4 带来的变化
4.1 16-Hi 堆叠与厚度挑战
HBM4 支持最高 16-Hi 堆叠。为满足 JEDEC 规定的 775μm 总高度限制,DRAM Die 的厚度必须从 HBM3 的 ~50μm 减薄至 ~30μm。极薄的晶圆在加工和键合过程中极易损坏,这对封装工艺提出了极高的挑战。
更大的单 Stack 容量意味着更少的 stack 数量即可实现同等总容量,从而降低 GPU 封装基板复杂度和 Interposer 面积。
4.2 HBM4 的成本与产能特征
相较于 HBM3,HBM4 的成本分布预期发生显著变化:
Base Die 成本占比上升:单位面积的逻辑 wafer 成本是 DRAM 的 2-3 倍。
封装绝对成本不降反升:混合键合初期良率低于成熟的 Microbump,爬坡过程预计需要 2-3 年。
测试复杂度更高:16-Hi 堆叠中每层都需要 KGD(Known Good Die)测试,良率损失随层数线性增加。
HBM4 对 DRAM 晶圆消耗量的放大效应:每颗 stack 包含更多 Core Die(16 vs 12,+33%)加上混合键合良率爬坡损失,HBM 对 DRAM 总晶圆产能的“吞噬”效应被放大,留给标准通用型 DRAM 的晶圆产能空间被进一步挤压。
从 HBM4 开始,存储芯片更接近逻辑芯片,而非之前单纯的物理芯片。其 Base Die 开始使用逻辑封片,不再只是单纯的电气接口层,它开始集成内存控制器(Memory Controller)、ECC(错误检查纠正)、电源管理,甚至可以根据客户需求集成轻量级的计算单元(Compute Blocks)。这意味着,存储芯片自身已经具备了一定的“大脑”和计算调度能力。GPU 厂商甚至可以针对自身硬件定制 HBM4 的逻辑电路,进一步优化 GPU 设计。这使得存储行业有可能甩掉纯周期性属性,逐步向高门槛的“成长型科技系统”重估。
联想本月全球存储厂商股票暴跌,已经处于超卖状态,新的机会也许已经出现。

